Sagittarius-SPT系列 - 結合研究、特性分析與生產的多功能合一矽光子元件自動化測試系統

矽光子是一種顛覆性技術，將徹底改變如數據中心、高效能計算與數據傳輸等多項應用領域。矽光子是數個技術模塊的整合，包括激光器、光學元件、MEMS 、高速數位與射頻系統單晶片(SOCs)。如此復雜系統的測試，需要在精密機械、光學特性與射頻測量等等領域，具備極高的整合專業知識。

隨著制造廠、商業模組工具與光子測試性能組成的工業生態系統出現，光學集成電路科技與應用的進程正在加速。將光學測試由封裝級，更將深入至晶圓級半導體進程，是確保效能與良率的重要步驟。

思達科技所開發的世界領先的商用自動測試系統Sagittarius-SPT，其先進儀器控制與為光學產業開發的測試方法，適用于此新產業。晶圓級測試的一項測試關鍵層面，是快速可重復性的光耦合，包括探針卡位置優化，以及偏振校準。

圖解: Sagittarius-SPT自動順序測試采用具有PIN結構的矽線波導的可變光衰減器(VOA)

Sagittarius-SPT帶來幾項突破，包括在晶圓切割前，提供測試晶圓與元件的自動測試平臺；具有傳統DC與射頻電子的晶圓探測功能，集成至光學測試范圍等。思達已為光通訊元件分析儀(LCA)、光開關、可調鐳射光源、光功率計等提供多種儀器驅動器，可以對可變光衰減器、光學調變器，與鐳射光電二極管等等進行測試。

矽光子元件的自動化特性測試，使具有單個或多個輸入、加上單個或多個輸出的不同類型元件能夠以納米級精度自動對準。為了加速晶圓級測試的進程，思達開發了先進的自動化光纖校準系統和高級探針臺，在矽光子元件測試時，使用先進校準技術，無須人工互動，即可按順序方式移至下一個元件。

Sagittarius-SPT進一步使不同類型的矽光子元件，能以不同的方式測試光電直流，與動態高頻性能。包含運用于自動晶圓裝載與卸載的設備前端模組(EFEM)，使得Sagittarius-SPT成為應用于矽光子元件和集成電路的領先業界的量產制造測試系統，以最低的測試成本，為客戶生產矽光子元件。思達科技今后也將為不同客戶提供Sagittarius-SPT自動矽光子測試系統解決方案。

關于思達科技

思達科技（STAr Technologies）成立于2000年，專精于先進整合測試系統與高效能探針卡。所開發的整合測試系統已在全球安裝超過一千套，其應用范圍廣泛，如SPICE建模、DC-RF元件特性、可靠度品質驗證與矽光子測試等等。思達科技總部位于臺灣新竹市，在美國、日本、韓國、新加坡、中國與印度設有分公司。請查詢網站www.STAr-Quest.com。