關(guān)鍵字:JEDEC LED國際熱測試標準
隨著時間的推移,由于功率LED的效率提高(根據(jù)不同類型LED在20-40%的范圍內(nèi)),高亮度/功率的LED作為照明光源在眾多行業(yè)中普遍應用。在這些應用中,熱設(shè)計是關(guān)鍵因素。并且,為確保LED的預期壽命和光亮度輸出,LED元件設(shè)計過程中需要精確的熱數(shù)據(jù)。在JESD51-5X系列標準發(fā)布之前,業(yè)界缺乏一個被廣泛接受的功率LED元件的熱測試標準。這意味著公布的數(shù)據(jù)表中的信息往往可疑。因此,新標準的制定是迫切需要。
LED制造商和LED的基板組裝集成商將受益于該系列新標準。其中包括對LED數(shù)據(jù)表中所應包含數(shù)據(jù)的明確推薦,以及專為高功率LED定義的測試環(huán)境和程序建議。該系列新標準消除了LED封裝或金屬芯印刷電路板(MCPCB)組裝LED器件在如何確定熱性能方面以前存在的模糊性。
JEDEC總裁約翰·凱利指出,“LED的熱測試需要明確的指南。而JESD51-50,51,52和53系列標準的發(fā)布是由行業(yè)領(lǐng)導者和JEDEC JC-15委員會迅速行動的結(jié)果。 JEDEC非常高興為滿足制造商的測試需求提供全面的解決方案。“
該系列新標準將會在5月31日即將在加拿大渥太華舉辦的光輻射測量委員會(CORM)2012年會議上得到介紹。來自Poppe Mentor Graphics公司和布達佩斯技術(shù)與經(jīng)濟大學的安德拉什博士與JC-15委員會新標準的關(guān)鍵作者將作“高功率LED新的JEDEC熱測試標準”的主題發(fā)言。